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디지털사이니지 기기 시험 설비

본 시험환경은 디지털사이니지 기기의 내구성 및 디스플레이 품질을 평가하여 업계에게 객관적인 품질 기준을 제시하고, 디지털사이니지 제품에 대해 일정 수준 이상의 품질을 확보하기 위해 무상으로 시험환경을 제공하기 위한 목적으로 구축되었습니다. 2012년도에 발열 시험 장비와 광원 측정기를 도입하였고, 2013년도에 온습도, 분진, 방수를 위한 시험설비를 구축하였으며, 진동, 충격, 염수, 태양광 등의 내구성 시험을 위한 각종 챔버 들을 2015년 이후 구축해 나갈 계획입니다.

온습도 시험기(ESPEC. EBE-2E30WGP2TK-38)

KS C IEC 60068 계열의 저온 방치, 저온 동작, 고온 방치, 고온 동작 및 내습성 시험을 할 수 있는 시험설비로서, -40℃~80℃ 범위의 온도 시험과 10~95%RH 범위의 습도 시험을 할 수 있습니다.

시험기	지원 사항
ESPEC. EBE-2E30WGP2TK-38	o 챔버내부크기: 2X2X3m (WDH) o 온도 범위: -40℃~80℃ o 습도 범위: 10~95% (at 10℃~80℃) o 온습도 변동: ±0.5℃/±4% o 온습도 균일성: ±0.7℃/±4% o 최대 허용 시료 무게: MAX 500kg

분진 시험기(JFM. JD-5)

KS C IEC 60529에서 규정한 제품 외곽의 방진 보호 등급(IP 코드)을 판정할 수 있는 분진(방진) 시험설비입니다. 분진 시험설비의 경우 IP1등급~IP4등급 시험을 위한 접속 시험 핑거를 갖추고 있으며, La2 전용 시험 장치는 IP5등급~IP6등급 시험을 하기 장치입니다.

시험기	지원 사항
JFM. JD-5	o 지름 50mm 이상의 외부 분진에 대한 보호 시험 (IP 1등급)   - 분진 검사용 접속 시험 핑거 사용 o 지름 12.5mm 이상의 외부 분진에 대한 보호 시험 (IP 2등급)   - 분진 검사용 접속 시험 핑거 사용 o 지름 2.5mm 이상의 외부 분진에 대한 보호 시험 (IP 3등급)   - 분진 검사용 접속 시험 핑거 사용 o 지름 1.0mm 이상의 외부 분진에 대한 보호 시험 (IP 4등급)   - 분진 검사용 접속 시험 핑거 사용 o 먼지 보호 시험 (IP 5등급)   - 먼지 침투를 완전히 막는 것은 아니나, 기기의 운전을 방해하는 양의 먼지는 통과 안 하는 수준임 o 방진 시험 (IP 6등급)   - 먼지 침투 없음

방수 시험기(JFM. JSP-WalkIn)

KS C IEC 60529에서 규정한 제품 외곽의 방수 보호 등급(IP 코드)을 판정할 수 있는 방수 시험설비입니다. 방수 시험설비의 경우 IP1등급~IP6등급까지 지원하며, IP3등급~IP4등급 시험의 경우 규격에서 규정한 진동관 방식과 분무 노즐 방식 모두를 지원합니다.

시험기	지원 사항
JFM. JSP-WalkIn	o 수직으로 떨어지는 물방울에 대한 보호 시험 (IP 1등급)   - 적하 상자 사용 o 외곽이 15도 이하로 기울어져 있을 경우, 수직으로 떨어지는 물방울에 대한 보호 시험 (IP 2등급)   - 적하 상자 사용 o 물 분무에 대한 보호 시험 (IP 3등급)   - 진동관 또는 분무 노즐 사용 o 물 튀김에 대한 보호 시험 (IP 4등급)   - 진동관 또는 분무 노즐 사용 o 물 분사에 대한 보호 시험 (IP 5등급)   - 호스 노즐 사용 o 강한 물 분사에 대한 보호 시험 (IP 6등급)   - 호스 노즐 사용

발열 시험장비(열화상 카메라 FLIR T-620)

적외선 영상을 촬영하는 열화상 카메라로서, 제품의 제조상 열원을 파악하여, 설계상 결함이나 제품의 취약점을 사전에 파악할 수 있습니다. 7초 간격으로 24시간 연속 촬영하면서 촬영 데이터를 남기기 때문에 발열이 심한 소자 및 특정 지점의 발열 추이를 추적/검색할 수 있어 제품 개발시 제품의 취약점 발견에 도움을 주는 장비입니다.

시험기

지원 사항

FLIR T-620

o 측정 해상도 : 640x480 o 측정 파장 대역 : 적외선 o 분해능 : 0.68 mrad o 시야각(FOV) : 25° x 19° o 최소 촬영 거리 : 0.25 m o 측정 정밀도 : ± 2 °C or ± 2% of reading o 측정 온도 민감도 : <0.04°C @+30°C o 측정 온도 범위 : -40 °C to +650 °C o 운영 온도 : -15°C ~ +50°C o 하우징 : IP 54, IEC 60529 o 인터페이스 : USB, Wi-Fi, Bluetooth 내장 o 촬영 주기   - 7 seconds to 24 hours (IR)   - 14 seconds to 24 hours (IR and visual) o 인터벌 촬영 시 촬영 데이터(시간, 좌표, 온도) 보존 o 리포트 생성 기능 o GPS 내장

광원 시험장비(대면휘도계 Minolta CA-2000A)

디스플레이 제품의 휘도를 측정하여, Luminance Range, Black Level, Contrast Ratio, Gamma Characteristics, Uniformity 및 Mura 등의 특성을 파악하는 시험 장비이다. 백라이트(BLU)에 의해 발광된 디스플레이의 휘도를 측정하기 때문에 시험의 정확성을 위해 1Lux미만의 시험실 밝기에서 시험이 이루어 져야 하며, 이런 특성으로 인해 자체적으로 빛을 발광하지 않는 외부 광원을 반사하는 e-ink와 같은 액정 디스플레이 계열을 반사형 디스플레이 시험에는 적용할 수 없습니다. 현재 디지털 사이니지 제품에 주로 활용되는 디스플레이 유형은 LCD 계열의 투과형 디스플레이를 주로 채택하기 때문에 대부분 디지털 사이니지 제품의 디스플레이 품질 측정 장비로 적용이 가능합니다.

시험기	지원 사항
Minolta CA-2000A	o 촬상 소자 : 2/3 인치 monochrome 방식 o 필터 : CIE 1631 color matching function을 만족 o 유효 측거점 : 900K 이상 o 휘도 측정 범위 : 0.1 ~ 100,000 cd/㎡ o 측정 가능 크기 : 1~120 inch (2m 이내) o 측정 정밀도   - Luminance : ± 2% (23°C)   - Chromaticity : ± 0.004 (23°C) o 측정 재현성   - Luminance : 0.5%   - Chromaticity : 0.001 o 운영 환경 : 10-30°C, 상대 습도 70% 이하 o 지원 표준   - CIE 1931 Color Space   - VESA FPDM Version 2.0